Tanaka Precious Metals推出TK-SR铑材料，用于半导体测试

田中贵金属，作为贵金属材料的全球领导者，宣布在半导体测试技术上取得重大突破，开发出TK-SR。这是一种专为晶圆测试过程中探针针脚设计的新型铑基材料。

随着芯片架构日益复杂，半导体行业正面临着提高测试效率的巨大压力。在晶圆测试阶段，探针卡使用微小的针脚与晶圆建立电接触。这些针脚必须在承受反复机械应力的同时保持优良的电导性。传统的铑材料虽具有良好的化学稳定性，但在硬度与强度之间的平衡方面常常存在局限。

田中公司通过其专有的加工技术，使新开发的TK-SR材料克服了这些历史性限制。该材料同时实现了高强度、高弹性极限和高电导率。通过整合这些特性，TK-SR显著延长了探针卡的使用寿命，从而直接降低了半导体制造商的总体拥有成本。

此外，TK-SR支持细至18微米的线径。这一能力对于检查具有越来越窄间距的先进半导体封装至关重要。随着行业向2纳米和1纳米工艺发展，对此类高精度、高耐用性测试材料的需求预计将激增。田中贵金属设定了到2030年将TK-SR出货量较现有产品线翻一番的雄心目标。