Tanaka Precious Metals, ein weltweit führendes Unternehmen für Edelmetallmaterialien, hat mit der Entwicklung von TK-SR einen bedeutenden Durchbruch in der Halbleiter-Testtechnologie bekannt gegeben. Dabei handelt es sich um ein neues, auf Rhodium basierendes Material, das speziell für Probe-Pins im Wafer-Testprozess entwickelt wurde.
Die Halbleiterindustrie steht derzeit unter enormem Druck, die Testeffizienz zu verbessern, da die Chiparchitekturen immer komplexer werden. In der Wafer-Testphase verwenden Probe Cards winzige Pins, um elektrische Kontakte mit dem Wafer herzustellen. Diese Pins müssen wiederholten mechanischen Belastungen standhalten und gleichzeitig eine hervorragende elektrische Leitfähigkeit bewahren. Herkömmliche Rhodium-Materialien boten zwar eine gute chemische Stabilität, hatten jedoch oft Schwierigkeiten, Härte und Festigkeit in ein ausgewogenes Verhältnis zu bringen.
Das neu entwickelte Material TK-SR überwindet diese historischen Einschränkungen durch Tanakas proprietäre Verarbeitungstechnologie. Es erreicht gleichzeitig hohe Festigkeit, eine hohe Elastizitätsgrenze und hohe elektrische Leitfähigkeit. Durch die Kombination dieser Eigenschaften verlängert TK-SR die Lebensdauer von Probe Cards erheblich, was die Gesamtbetriebskosten für Halbleiterhersteller direkt senkt.
Darüber hinaus unterstützt TK-SR Drahtdurchmesser von nur 18 Mikrometern. Diese Fähigkeit ist entscheidend für die Prüfung fortschrittlicher Halbleitergehäuse mit zunehmend kleineren Pitch-Abständen. Da sich die Branche in Richtung 2-Nanometer- und 1-Nanometer-Prozesse bewegt, dürfte die Nachfrage nach solchen hochpräzisen, langlebigen Testmaterialien stark steigen. Tanaka Precious Metals hat sich das ehrgeizige Ziel gesetzt, das Versandvolumen von TK-SR bis zum Jahr 2030 im Vergleich zu den bestehenden Produktlinien zu verdoppeln.
